Entwicklung eines Labormessplatzes zur Charakterisierung von Leistungshalbleiterbauelementen

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Entwicklung eines Labormessplatzes zur Charakterisierung von Leistungshalbleiterbauelementen
Autor Peter John
Typ Master
Studiengang Informations- und Elektrotechnik
Erstbetreuer Ansgar Wego (Prof. Dr.-Ing.)
Zweitbetreuer Andreas Hein
Status der Abschlussarbeit verteidigt
Datum der Verteidigung 2013/11/18
Erscheinungsjahr 2013
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Halbleiterbauelemente sind in der Leistungselektronik von großer Wichtigkeit. Sie sind bedeutsame Schaltelemente und sie bilden die Grundlage bei der Umwandlung elektrischer Energie. Das Erlangen von Wissen über die wichtigsten Eigenschaften dieser Elemente, ist für das Grundverständnis in der Leistungselektronik absolut notwendig. Darum ist es außerdem sinnvoll, diese Eigenschaften mit Hilfe von Laborversuchen, zu untersuchen. In dieser Arbeit werden wichtige Charakteristika von sechs verschiedenen Leistungshalbleitern analysiert und bewertet. Diese Elemente sind die Diode, der Thyristor, der GTO, der Bipolartransistor, der MOSFET sowie der IGBT. Danach wurden sechs verschiedene Laborversuche entwickelt. Dafür fertigte man sechs Einzelmodule an und testete diese erfolgreich im Labor. Im nächsten Schritt erfolgte die Dokumentation der Ergebnisse. Zum Schluss folgte die Erstellung einer umfangreichen Praktikumsanleitung für die Nutzung in der akademischen Lehre.