International Conference on Defects in Semiconductors

Aus Kompetenzportal
Wechseln zu: Navigation, Suche
International Conference on Defects in Semiconductors
Kürzel: ICDS
Beteiligte Personen der HS: Marion Wienecke, B. Reinhold, and the ISOLDE Collaboration
Mitwirkung bei: Panelleiter/Referent
am 01. Januar 1999
Ort: Berkely, USA
Anzahl Teilnehmer:
davon international:
Review:
Hyperlink:

Vortrag: Shallow doping of wide band-gap II-VI Compounds